仪电物光 SGW® X-4B显微熔点仪 参考价格：￥5800.00 产地品牌：上海仪电物光

金山科研平台向您推荐仪电物光 SGW® X-4B显微熔点仪，品质保证，价格优惠，全国联保，欢迎咨询。 测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。主要技术参数：熔点测量范围：室温至320℃测量重复性：±1℃（在＜200℃时）±2℃（在20.0℃一320℃时） SGW®X-4 SGW®X-4A SGW®X-4B 温度显示最小值 1℃ 0.1℃ 0.1℃ 熔点观察方式 单目显微镜 单目显微镜 双目体视显微镜 光学放大倍数 40× 40× 40×-100×连续变倍

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